Semiconductor IC Test Pogo Pin Tower
Test di circuiti integrati a semiconduttore Pogo pin Tower
Semiconductor IC test Pogo pin Tower si combina con il test del connettore pin Pogo e pin pogo.

Test di circuiti integrati a semiconduttore Pogo pin Tower
Pienamente compatibile con le torri sonda esistenti: 360/900 / 1.080 / 1.320 / 1.620 / 2.070 pin. Un 18-modulo pin con 90 pin di segnale per singolo modulo e un 10-modulo pin con 45 pin di segnale per singolo modulo.
Spazio di applicazione: 224 centimetri quadrati e 114 centimetri quadrati

Test di circuiti integrati per semiconduttori Pogo pin Tower: espandere lo spazio applicativo, design del modulo pin, spazio liberamente configurabile, è possibile fornire varie soluzioni di moduli pin pogo in base alle esigenze del cliente, configurabili da 800 a 4.800 pin.

Test di circuiti integrati a semiconduttore Pogo pin Tower
Certificazione della misurazione della resistenza di contatto per garantire prestazioni eccellenti. Strumenti di debug, strumento di test della posizione della torre della sonda, strumento di controllo della posizione del nodo.

Test di circuiti integrati a semiconduttore Pogo pin Tower
La struttura modulare rende il perno pogo e il blocco a molla facili da espandere e sostituire e di facile manutenzione. Compatibile con tutte le tradizionali schede PIB e stazioni sonda standard. Soluzioni di interfaccia più economiche, avanzate e innovative Con copertura per un test a bassa temperatura.

Test di circuiti integrati a semiconduttore Pogo pin Tower
la sonda di prova di precisione è una sonda di prova, che è una parte indispensabile del processo di prova elettrica di precisione. Nel processo di ricerca e sviluppo e produzione di circuiti elettronici, è spesso necessario testare e analizzare la continuità e la qualità del segnale. In questo momento, è necessario utilizzare una sonda di test di precisione per estrarre il segnale senza perdite e fornirlo all'ICT o al sistema di test corrispondente per l'analisi integrata.

Test di circuiti integrati a semiconduttore Pogo pin Tower
A seconda dei campi di applicazione delle sonde di prova, le sonde di prova sono suddivise in sonde ICT convenzionali, sonde di prova a semiconduttore, sonde di prova ad alta frequenza RF, sonde ad alta corrente e sonde a contatto della batteria. Può anche essere suddiviso in pin pogo convenzionali a estremità singola, aghi per test BGA a doppia estremità e aghi a doppia estremità con adattatore per maniche dell'ago.

Test di circuiti integrati a semiconduttore Pogo pin Tower
Nella fase iniziale della selezione della sonda, diversi parametri che devono essere presi in considerazione sono la distanza della sonda di prova, la selezione del tipo di testa appropriato dell'oggetto da testare, la corrente trasportata dalla prova, la corsa del movimento di prova , e la forza elastica che deve essere selezionata, ecc.

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